目的和用途该设备用于功率半导体模块(IGBT、FRD、肖特基二*管等)的动态参数测试,轨道交通用IGBT测试仪,以表征器件的动态特性,轨道交通用IGBT测试仪厂家,通过测试夹具的连接,实现模块的动态参数测试。IGBT模块VCE-IC特线(单管),Vcesat随电流变大而*。1.2 测试对象IGBT、FRD、肖特基二*管等功率半导体模块2.测试参数及指标2.1开关时间测试单元技术条件开通时间测试参数:1、开通时间ton:5~2000ns±3%±3ns2、开通延迟时间td(on):5~2000ns±3%±3ns3、上升时间tr:5~2000ns±3%±3ns4、开通能量: 0.2~1mJ±5%±0.01mJ1~50mJ±5%±0.1mJ 50~100mJ±5%±1mJ100~500mJ±5%±2mJ5、开通电流上升率di/dt测量范围:200-10000A/uS6、开通峰值功率Pon:10W~250kW
什么是大功率半导体元件?其用途为何?
凡是半导体元件如金属氧化场效晶体管(MOSFET)、IGBT(INSULATED GATE B.TRANSISTOR)及TRIAC(可控硅)、SCR(晶闸管)、 GTO等各型闸流体与二*管(DI ODE)等,轨道交通用IGBT测试仪现货供应,其工作电流与电压乘积若大于1KW以上,均可属于大功率的范围。如下图片所示。此类元件多用于车船,工厂的动力,光电及其他能源的转换上。培训后,应能达到用户能基本完全*熟练操作单元进行功率半导体性能测试,并能解决实际工程问题。