分立器件检测仪iv+cv测试仪

概述：

武汉普赛斯分立器件检测仪iv+cv测试仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。

基于模块化的体系结构设计，半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程，实现和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。详询一八一四零六六三四七六；

产品特点：

30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；

测量精度高,全量程下可达0.03%精度；

内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；

自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；

在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；

提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；

提供上位机软件及SCPI指令集；
 

典型应用：

纳米、柔性等材料特性分析；

二管；

MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；

第三代半导体材料/器件；

有机OFET器件；

LED、OLED、光电器件；

半导体电阻式等传感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二管；

电阻率系数和霍尔效应测量；

太阳能电池；

非易失性存储设备；

失效分析；