烟台测厚仪-江苏一六仪器

江苏一六仪器有限公司是一家光谱分析仪器研发、生产、销售的企业。我们*的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合*定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。欢迎咨询联系！

如何选择测厚仪的测点

如何选择测厚仪的测点位置？我们想要使用测厚仪测量物品厚度，前提是有测点位置，相当于我们的需要选择一个固*为零值一样，如此才能够测量出具体厚度。

1、钢结构柱、梁，在构件长度方向内每隔1m取一截面，测试构件各表面的涂层厚度，计算所有测点的平均值作为该根构件的涂刷厚度.

2、桁架结构、梁，在上、下弦和腹杆的长度方向内每隔1m取一个截面，测定杆件各表面的涂层厚度，计算所有测点的平均值作为该根构件的涂层厚度.顶板和钢楼梯，在每平方范围内选取5个点进行测定，测厚仪，计算所有测点的平均值作为该构件的涂层厚度.

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。

影响涂层测厚仪*度的因素有哪些

影响涂层测厚仪*度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中为常见，也是需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪*度的因素有所了解了。

3)人为因素。这中情况经常会发生在新用户的身上。涂层测厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量csgia*发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免造成基体本身磁场的干扰。