江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列
技术参数
X射线装置:W靶微聚焦加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度:9%
测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察:1/2.5彩色CCD,镀层膜厚仪,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍
随机标准片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
江苏一六仪器 *涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合*定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
单镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,测厚仪,Au,Sn等。
双镀层:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
三镀层:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足
GB/T 16921-2005 标准(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。
2. 镀层层数:多至 5 层。
3. 测量点尺寸:圆形测量点,直径约 0.2—0.8毫米。
4. 测量时间:通常 30 秒。
5. 测量误差:通常小于 5%,视样品具体情况而定。
6. 可测厚度范围:通常 0.01 微米到 30 微米,视样品组成和镀层结构而定。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X射线荧光光谱测厚仪 X射线的产生
X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。
产生X射线的简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中,电子突然减速,其损失的动能(其中的1%)会以光子形式放出,形成X光光谱的连续部分,称之为制动辐射。通过加大加速电压,光谱膜厚仪,电子携带的能量*,则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴,外层电子跃迁回内层填补空穴,同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是化的,所以放出的光子的波长也集中在某些部分,形成了X光谱中的特征线,此称为特性辐射。