一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利*聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪操作规程有哪些?测厚仪在使用过程中,淄博测厚仪,如果操作不规范,很容易导致测厚仪出现故障及问题,因此我们在使用前都需要先了解下测厚仪的操作规范及一些常见问题的处理方法:
四.安全卫生
1、源需由专人保管;
2、应有妥善的保管场所(有防盗门、窗和放置源用的铁皮 柜,光谱测厚仪,距生活区一米远);
3、长期不使用时,应放置保管场所;
4、卫生
5、应定期清理主机和探头外表面,对源铅罐上表面也要定期清理。
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线,入射的X射线具有相对较大的能量,使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间,能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间,能量为0.111-0.124KeV。
当X射线激发出试样特征X射线时,其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁,这个值是吸收限,相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。
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X射线
德国物理学家伦琴在研究稀薄气体放电实验时,采用了一种特殊装置,此装置发射电子,在阴*相对的位置装置金属阳*,在阴阳两*之间加以高电压,当容器充有稀薄气体时,涂层测厚仪,气体中可观察到放电现象,试验中发现的这种未知射线,伦琴命名为X射线。对X射线定义为:电子在原子核附近加速或核外内层电子能级间发生跃迁时所发射的电磁辐射。