供应安捷伦惠普HP4191A*阻分析仪HP4191A
4191A阻*测试仪1MHZ-1000MHZ
测试材料的阻*Z，导纳Y，电感L，电阻R,介电损耗D ,品质因数
射频阻*计量器具检定系统
Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments JJG 2011-87
代替：高频阻*量值传递系统
射频阻*计量器具检定系统
本检定系统适用于射（高）频集总参数阻*计量器具（即检测20kHz-1GHz频段的R，L，C元件和材
料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻*量的量值
溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
一、计量基准器具
1、高频集总参数阻*的*计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻*量值（包括
电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。
2、射（高）频集总参数阻*计量基准器具包括：
2.1空气介质同轴线阻*基准，其阻*量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用
校准按反射系数测量原理设计的高频阻*精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻**基准，本检
定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻*量值的统一。在（1-1000）MHz频段，其技术指标为：
反射系数模值｜г｜：1.000&plu*n;0.002； 相角：&plu*n;180°&plu*n;0.5°。
2.2高频阻高频阻*精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻*分析仪，经过准确度论
证分析，保证高频集总参数阻*量的以下计量工作性能：
频率：（1-1000）MHz
反射系数模值｜г｜：1.000&plu*n;(0.003-0.007)
相角θ：&plu*n;180°&plu*n;0.5°；
阻*模值｜Z｜：1Ω-10kΩ&plu*n;（0.5-10）%
电容C：10pF-100nF&plu*n;(0.2-10)%;
电感L：10nH-100μH&plu*n;（0.2-10）%
损耗：tgδ（D）0.001-0.5&plu*n;<(0.002-0.05)
二、高频集总参数阻*标准
3、集总参数阻*标准包括：
3.1高频阻*标准件50Ω，0Ω，0S。它们由*基准通过直接比对法传递量值，技术特性如下：
50Ω：｜г｜≤0.0025； 0Ω：残余阻*小于2mΩ； 0S：边缘电容值0.080pF
这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻*分析仪、高频LCR表等通用高频阻*测量仪
器（校准中还需使用直流以和低频阻*标准伯）。并由50Ω阻*件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等
标准设备
3.2高频、低频阻*分析仪。这些是市售商品高准确度阻*测量仪器，也用作计量标准设备，用以
定标低准确度的阻*标准量具。其技术指标为：
频率：20kHz-1000MHz；
阻*｜Z｜：1Ω-10kΩ&plu*n;（1-20%）；
电容C：10pF-100nF&plu*n;(0.5-20)%；
电感L：10nH-1.00μH&plu*n;（0.5-20）%
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