镀层膜厚仪|一六仪器|膜厚仪

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，膜厚仪，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用*的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。

膜厚仪

膜厚仪厂家解释凡其厚度与入射光波长相比拟的并能引起干涉现象(相干光程小于相干长度)的膜层为薄膜，其厚度远大于入射光波波长的膜层称之为厚膜。如今，镀层膜厚仪，微电子薄膜，光学薄膜，*1氧化薄膜，荧光光谱膜厚仪，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。

为什么膜厚仪有时测量不准确?

在系统矫正时没有选择合适的基体。基体****1*面为7mm，****1小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。

附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时，选择的基体的表面也必须是裸1露的、光滑的。

仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。