为什么膜厚仪有时测量不准确?
在系统矫正时没有选择合适的基体。基体****1*面为7mm,****1小厚度为0.2mm,X荧光膜厚仪,低于此临界条件测量是不可靠的。
附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统矫正时,选择的基体的表面也必须是裸1露的、光滑的。
仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
膜厚仪购买注意事项
1.首先需要了解测试的需求,膜厚仪,如测试基体材料、涂镀层材料、测试范围及精度需求,高精密膜厚仪,若湿膜或高温条件下测量时需特别说明。
2.其次对于塑料膜,纸巾,X-RAY膜厚仪,锡纸厚度的测量,测量仪型号的选择不受限制。
3.对于有曲率的工件需提供曲率半径值,对比膜厚仪的曲率是否满足现场测量需求,如超标需要配置特配探头。。。
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度,常见的铝基,铜基氧化,测量时候用涂层测厚仪选择N(非磁性)探头,这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理,配F合N探头,或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米,但是普通的涂层测厚仪误差比较大,需要用*的涂层测厚仪测量氧化层,比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。