镀层标准片通常作用:
1:用来对膜厚仪工作状态的准确性和稳定性进行校验。在膜厚仪测试过程中对膜厚仪运行过程中,确认工作状态。****膜厚仪故障状态时能*时间确认。
2:****用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,标准片,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品,膜厚标准片,以得到镀层厚度或组成比率。
软件测试流程
一:参数设置
1. 峰位校准参数,元素Ag通道552
1)开机后预热,电镀镍膜厚标准片,步骤为:放入Ag元素片→产品程式→选择→预热→开始。
2):参数→峰位校准参数→管流设置(0.1准直器设置为3000左右, 0.2准直器设置为1000左右,根据不同的准直器,设置合适的管流,保证Ag计数率在2200左右,)
3)峰位校正:点击
→开始→自动进入峰位校正程序,保证Ag峰通道在552,成功后进入校正Cu元素界面,更换Cu元素片,峰通道在198,峰位校正成功。
距离调校
打开软件后从菜单中找到
菜单,然后从根部下拉菜单中找到
子菜单。打开距离调校会出现距离调校样品窗口,由于我们仪器多数情况下调校会常用到标准片(其表面到测试窗口的距离为0.5mm),元素片(其表面到测试窗口的距离为0.5mm),装标准片的盒子(其高度为17mm)。为了方便快速调试清晰度,我们把已知的2个高度输入到距离调校样品中。