江苏螺丝膜厚仪|一六仪器1(在线咨询)

　在膜厚测定中的能谱表示：由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示，操作简单，资料处理的速度快。

　　充实测量报告的作成机能：采用WINDOW软件，测定画的撷取，非常简便，螺丝膜厚仪，可充衬测量报告的制作机能。

　　测定物膜厚附著分布表示：以三次元图案来表示测定物膜厚附著状态的分布，作判定时一目了然。。。。

膜厚仪的影响因素有哪些

1、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

2、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

3、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地*。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

4、试件的变形

测量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。