安铂*涂层测厚仪UEE923/924(打印型)
概述:
在国内同类产品中,测量精度*高(A级),速度*快,稳定性*好。且操作方便,内置打印,外形美观它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过适用不同的侧头,还可满足多种测量需要。本仪器广泛地用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护*的仪器。本仪器符合以下标准:GB/T 4956-1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量,磁性方法;GB/T 4957-1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量,涡流方法。JB/T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95《磁阻法测厚仪》 JJG818-93《电涡流式测厚仪》
功能特点:
● 全中文界面操作,更方便;
● 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和
硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基
体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳*氧化膜等)。
● 可使用7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
● 具有两种测量方式:单次测量和连续测量(大面积内快速获取读数)转换公、英制转换;
● 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
● 设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、
标准偏差(S.DEV);
● 多种校准方式:可采用一试片校准和两试片校准方法对仪器进行校准,并可用五试片校准对仪器的系统误差进行修正;
● 具有存贮功能:可存储4类工件,每类工件26组,每组15个测量值,共1560个测量值;
● 具有删除功能:对测量中出现的单个*数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
● 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;
● 内置热敏打印机:可以直接打印当前测量的数据,也可选择存储的某一组数据。
● 具有与PC 机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC 机,以便对数据进行进一步处
理;
● 操作过程有蜂鸣声提示;
● 设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性涂盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电涂盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型测头)
当测头与涂盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性涂盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出涂盖层的厚度。
b) 涡流法(N型测头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测头与涂盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出涂盖层的厚度。
安铂*涂层测厚仪UEE923/924(打印型)技术参数:
型号 |
Uee®923 |
Uee®924 |
|
测头类型 |
F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1 |
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工作原理 |
磁感应或电涡流 |
||
测量范围 |
探头决定(标配探头F1或N1 0~1250μm) |
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低限分辨率 |
0.1μm |
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示值误差 |
一点校准 |
探头决定,标配探头&plu*n;(3%H+1) |
|
二点校准 |
探头决定,标配探头&plu*n;[(1~3%)H+1] |
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统计功能 |
平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、 |
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工作方式 |
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) |
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测量方式 |
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) |
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存储 |
1560个测量值 |
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PC通讯功能 |
有 |
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屏显 |
黑白 |
彩屏 |
|
打印纸卷直径 |
30&plu*n;0.5mm |
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打印纸宽 |
56.5&plu*n;0.5mm |
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电源 |
锂电池 |
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充电电源 |
12V |
||
测试条件 |
*小曲率半径mm |
凸1.5、凹9 |
|
*小面积直径mm |
Φ7 |
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基本临界厚度mm |
0.5 |
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工作环境 |
温度 |
0~40℃ |
|
湿度 |
20%~90% |
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外形尺寸 |
238*90*38mm |
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重量 |
420g |
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标准配置 |
主机、探头(F1或N1)标准试片、基体、充电器、文件资料、打印纸、仪器箱、USB通讯软件 |
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选配 |
多种探头 |
涂层测厚仪可选探头参数表
测头型号 |
F400 |
F1 |
F1/90 |
F10 |
N1 |
CN02 |
|||
工作原理 |
磁感应 |
电涡流 |
|||||||
测量范围(um) |
0-400 |
0-1250 |
0-10000 |
0-1250(铜上镀铬0-40um) |
10-200 |
||||
低限分辨力(um) |
0.1 |
0.1 |
10 |
0.1 |
1 |
||||
示值误差 |
一点校准(um) |
&plu*n;[3%H+1] |
&plu*n;[3%H+10] |
&plu*n;[3%H+1.5] |
&plu*n;[3%H+1] |
||||
两点校准(um) |
&plu*n;[(1~3)%H+0.7] |
&plu*n;[(1~3)%H+1] |
&plu*n;[(1~3)%H+10] |
&plu*n;[(1~3)%H+1.5] |
- |
||||
测量条件 |
*小曲率半径(mm) |
凸 1 |
凸1.5 |
平直 |
10 |
3 |
平直 |
||
基体*小面积的直径(mm) |
ф3 |
ф7 |
ф7 |
ф40 |
ф5 |
ф7 |
|||
*小临界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
0.5 |
2 |
0.3 |
无限制 |
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覆盖层 |
有机材料等非磁性覆盖层 (如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳*化处理等) |
非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等) |
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覆盖层厚度不超过100µm |
覆盖层厚度超过100µm |
覆盖层厚度不超过100µm |
覆盖层厚度超过100µm |
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如 铁、钢 |
被测面积的直径大于30mm |
F400 型测头 0~400µm |
F1 型测头 0~1250µm |
F400 型测头 0~400µm |
F1 型测头 0~1250µm |
被测面积的直径小于30mm |
F400 型测头 0~400µm |
F400 型测头 0~400µm |
F400 型测头 0~400µm |
F400 型测头 0~400µm |
|
如铜 、铝 、 |
被测面积的直径大于5mm |
N1 型测头 0~1250µm |
仅用于铜上镀铬N1 型测头 0~40µm |
||
塑料、印刷线路非金属基体 |
被测面积的直径大于7mm |
- |
- |
CN02 型测头10~200µm |