CCD电路设计 2．2．1 CCD选择 工程测量中， CCD器件选择的主要依据是测量精度和测量范围。为了获得图像细节，必须要保证CCD的空间分辨率。按照采样定理的要求，如果已知图像的特大的空间频率（即每毫米的线数）， 则抽样频率应大于图像特大空间频率的2倍。例如，设图像的特大空间频率为每毫米40条线数，则抽样频率应大于或等于每毫米80条线数，对应的抽样尺寸（分辨率）为1/80=12．5μm。我们应根据所求得的抽样尺寸选择CCD器件。CCD的抽样尺寸即为所要求的CCD的像元尺寸。若CCD的像元数为N，则其所能测量的特大尺寸也就确定，即为（N×像元数）/β，其中β为光学系统的放大率。 此外，还要保证图像的亮度值处于CCD器件的转换特性允许的动态范围之内，确保转换后的图像信息不失真。如果光学图像亮度值在时间坐标上还有变化（即动态测量），则图像亮度对时间的变化上有一个特高截止频率。按照采样频率定理， CCD在时间坐标上对光学图像的采样频率应保证大于或等于图像特高截止频率的2倍。由此可以确定允许的CCD光积分时间和计算机对信息采集的时间。为保证被测信号的质量，实际采样频率取被测信号特高频率的3～4倍，有时甚至取到10倍。 CCD的像元是由光敏材料制成的。由于材料本身的性能所限，在光电转换时，CCD的各像元存在响应非均匀性和单个像元响应的非线性问题，这都将对测量精度产生影响。因此，选择器件时，应选用响应非均匀性低和线性度好的器件。

     电荷耦合器件（chargecoupledevice， CCD）是一种特殊的半导体器件和新型的固体成像器件。CCD由一系列排列紧密的MOS电容器组成，其突出特点是以电荷作为信号 ［2］ 。CCD芯片上有许多光敏单元，它们 可以将不同的光信号转换成电荷输出， 从而形成对应原始光图像的电荷图像。当被测工件放置在线阵CCD前端时，光学系统会把被测工件成像在CCD的光敏面上。在CCD驱动信号的作用下， 被测工件与背景在光强分布上的变化被反映在CCD输出的视频信号中。

非标准检测方法的确认程序

一、总则

1、为规范中国实验室*认可*检测方法的确认工作保证方法确认结果的公

正、准确和可靠性特编制本程序。

2、本程序适用于非标准检测方法的确认包括对拟纳入CNAL检测方法库的文件的

建议或申请、受理、文件初审、技术评审、审核确认、通报、批准发布全过程。

3、非标准检测方法确认工作由能力验证分*检测方法研究工作组(CNALTC

SC5WG4下简称工作组)负责。工作组由聘请的各领域分析测试*组成

设组长1人负责工作。工作组下设办公室和若干个****组。

为什么选择振皓自动化？

— 保证各道工序生产可靠进行

— 不良品自动进行分选，****产品质量

— 减少现场人员，****生产率

— 可进行*检测

— 高温或*环境下不妨碍检测过程

— 检测结果具有稳定性、一致性

— ****客户信任度,保障订单持续不断