如何设计直径测量系统的光学照明系统和光学成像系统, 以及如何采用现代图像传感电荷耦合技术和单片机技术实现对生产线上的工件直径进行测量并达到微米级测量精度。与传统的机械检测方法相比,光电检测法具有许多优点,它能够以非接触的方式检测被加工产品,测量中对工件无磨损,可消除人为误差, 保证了系统的测量精度。
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电荷耦合器件(chargecoupledevice, CCD)是一种特殊的半导体器件和新型的固体成像器件。CCD由一系列排列紧密的MOS电容器组成,其突出特点是以电荷作为信号 [2] 。CCD芯片上有许多光敏单元,它们 可以将不同的光信号转换成电荷输出, 从而形成对应原始光图像的电荷图像。当被测工件放置在线阵CCD前端时,光学系统会把被测工件成像在CCD的光敏面上。在CCD驱动信号的作用下, 被测工件与背景在光强分布上的变化被反映在CCD输出的视频信号中。
二值化电路设计 在CCD输出的视频电压信号中,低电平部分表征 实际工件尺寸的大小,高电平部分表征背景光信号的大小,也就是说,工件与背景光信号的差异在CCD输出信号中体现为电平的明显变化。因此,需要通过二值化处理, 把CCD视频信号中工件尺寸部分与背景光部分分离成二值电平。
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