4156CAgilent 精密半导体参数分析仪
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4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为*器件表征提供了**参数分析的实验室平台。较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V，并给4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
4156C是基于PC的参数分析和表征的解决方案，标准配置包括一个参数分析仪，Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件， Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面，具有强大的分析工具，探针台驱动，和自动测试工具。
备注：
我们的优势：
品种齐全，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
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