XTDP三维光学摄影测量系统
XTDP三维光学摄影测量系统,使用高分辨率单反相机,通过不同角度拍摄多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建测量对象表面的关键点(检测点)三维坐标,可用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点三维快速测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,****整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。
系统主要组成:*单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及计算分析软件。
系统特点
主要技术参数
应用领域:
大型物体尺寸测量、大型复杂曲面测量、逆向建模、质量检测、物体静态变形测量等,常用于汽车制造,飞机制造,船舶制造,铸造,矿业研究等领域
1.3 典型配置
型号 |
XTDP-I(标配) |
XTDP- II(工业型) |
XTDP-III(*) |
XTDP-DEF(静态变形) |
功能 |
三维摄影测量 |
三维摄影测量 |
三维摄影测量 |
三维摄影测量、静态变形测量 |
相机型号 |
2400万 |
2400万 |
2400万 |
2400万 |
测量范围 |
0.3-10m |
0.3-10m |
0.3-30m |
0.3-10m |
测量精度 |
±0.025/m |
±0.025/m |
±0.015/m |
±0.025/m |
编码标志点 |
12位(200个) |
12位(200个) |
15位(400个) |
12位(200个) |
标尺 |
合金1000*2 |
合金1000*4 |
碳纤维1000*4 |
合金1000*4 |
1.4 应用案例
(1)逆向建模及质量检测
大型物件测量,XTDP通过测量关键点三维坐标,与数字模型比对,分析偏差
(2)静态变形检测
(3)矿业系统相似材料模拟矿山开采
1.5m*4m的相似模型材料,在试件表面布置编码点和非编码点
试验人员通过模拟采掘过程,通过XTDP拍照观测上覆岩层垮落过程
每采掘10cm,XTDP观测一次,通过沉降数据获取上覆岩层沉降曲线,XTDP可以*准确直观的反应地下*对围岩及地表变形和*特征
(4)大型物体尺寸测量比对 大型水轮机叶片数模对比
检测水轮叶片三维尺寸偏差
实验过程:均匀黏贴标志点作为要检测的数据点,放置编码点用来做拼接,用XTDP拍摄获取数据并处理,获取点信息,与数模进行对比,检测三维尺寸偏差。
综述:XTDP适合大型物体全尺寸三维测量,相当于没有形成限制的三坐标测量设备,另外该设备具备 变形测量功能,可为工程变形,材料变形,全场变形提供数据支持。