X荧光镀层测厚仪

型号：Thick800A
产品说明、技术参数及配置

仪器介绍

Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
精度移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加准确
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V&plun;5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
二维移动样品平台，探测器和光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

镀层测厚

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智能型X射线荧光镀层测厚仪

型号：Thick 800A 智能型
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产品说明、技术参数及配置

智能型Thick800A是天瑞仪器股份有限公司的集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析。

性能优势

配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨率高达140eV
上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形，拱上照式设计形，凹槽，螺纹等异形的快、准、稳检测
精度自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的对焦快速检测
采用高度自动定位激光，可快速定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试
多种准直孔可供选择——准直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm
定位——样品可快速定位
操作简易——全自动智能集成设计，让检测轻松完成

技术优势
 

仪器配置高

图1

图2

智能型Thick 800A采用的是业内的SDD半导体电制冷探测器，分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。
以Au/Ni/Cu镀层为例，正比计数盒仪器谱图如图一，从谱图可以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重，金的峰形与样品本底重叠；不利于元素准确分析。
图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图，从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分，有利于元素分析。
 

聚焦光路设计

智能型Thick 800A采用的光路交换装置，让X射线与摄像光处于同一垂直线，达到激光点与测试点一体，且光高度聚焦；配合FP软件达到对焦变焦功能，实现微小不规则样品的测试；高集成的光路交换装置与的角度可缩小一倍，有效的减少弧度倾斜放样带来的误差。
 

滤波片实现低背景测量

通过滤波片可以有效降低X荧光的吸收与增强作用，减小背景散射，提高对超薄金属元素的检出限可以达到0.005um），实现超薄金属镀层厚度分析。

精度定位技术

精度移动平台可定位测试点，平台电机重复定位精度小于0.005mm；移动平台可通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。
 

FP算法

智能型Thick 800A分析核心技术----FP算法
元素厚度检测
微区分析、薄膜分析次谱线分析
 

更加和人性化的测试软件

①主界面增加曲线快速切换功能；
②鼠标移动快捷键更改不需要ctrl，鼠标点哪，样品平台就会移动到哪里，更加方便客户测试；
③镀层厚度自动判定，客户可以根据需要自定义判定标准；
④工作曲线界面加入备注名称可编辑，并可以显示在主界面曲线界面，对英文元素做备注说明，方便客户区分，界面对客户更加友好
⑤自动生成测试报告，测试历史数据查看、检索等
⑥行业解决方案，如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍，电泳漆测厚度，铝塑膜测试镀铝的厚度等