X射线镍镀层测厚分析仪是集多年镀层测厚检测技术和经验，以的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

X射线镍镀层测厚分析仪使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。

产品说明、技术参数及配置

智能型Thick800A是器股份有限公司的集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款上照式膜厚测试仪。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析。

性能优势

配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨率高达140eV
上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形，拱上照式设计形，凹槽，螺纹等异形的快、准、稳检测
自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的对焦快速检测
采用高度自动定位激光，可快速定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试
多种准直孔可供选择——准直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm
定位——样品可快速定位
操作简易——全自动智能集成设计，让检测轻松完成

技术优势

仪器配置高

图1

图2

智能型Thick 800A采用的是业内的SDD半导体电制冷探测器，分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。
以Au/Ni/Cu镀层为例，正比计数盒仪器谱图如图一，从谱图可以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重，金的峰形与样品本底重叠；不利于元素准确分析。
图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图，从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分，有利于元素分析。
 

聚焦光路设计

滤波片实现低背景测量

通过滤波片可以有效降低X荧光的吸收与增强作用，减小背景散射，提高对超薄金属元素的检出限可以达到0.005um），实现超薄金属镀层厚度分析。

精度定位技术

精度移动平台可定位测试点，平台电机重复定位精度小于0.005mm；移动平台可通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。
 

FP算法

智能型Thick 800A分析核心技术----FP算法
元素厚度检测
微区分析、薄膜分析次谱线分析
 

更加和人性化的测试软件

①主界面增加曲线快速切换功能；
②鼠标移动快捷键更改不需要ctrl，鼠标点哪，样品平台就会移动到哪里，更加方便客户测试；
③镀层厚度自动判定，客户可以根据需要自定义判定标准；
④工作曲线界面加入备注名称可编辑，并可以显示在主界面曲线界面，对英文元素做备注说明，方便客户区分，界面对客户更加友好
⑤自动生成测试报告，测试历史数据查看、检索等
⑥行业解决方案，如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍，电泳漆测厚度，铝塑膜测试镀铝的厚度等

         金属镀层分析仪（X-Ray）适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。天瑞仪器thick金属镀层分析仪是一款的产品，得到了广泛应用和认可。

智能型Thick 800A采用的光路交换装置，让X射线与摄像光处于同一垂直线，达到激光点与测试点一体，且光高度聚焦；配合FP软件达到对焦变焦功能，实现微小不规则样品的测试；高集成的光路交换装置与的角度可缩小一倍，有效的减少弧度倾斜放样带来的误差。