金属镀层分析仪(X-Ray)适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系,或同时测量三层组分的厚度和成分。天瑞仪器thick600金属镀层分析仪是一款的产品,得到了广泛应用和认可。
智能型Thick 800A采用的光路交换装置,让X射线与摄像光处于同一垂直线,达到激光点与测试点一体,且光高度聚焦;配合FP软件达到对焦变焦功能,实现微小不规则样品的测试;高集成的光路交换装置与的角度可缩小一倍,有效的减少弧度倾斜放样带来的误差。
产品说明、技术参数及配置
智能型Thick800A是器股份有限公司的集多年X荧光测厚仪经验,专门研发的一款上照式膜厚测试仪。仪器外观简洁大方,通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光和保护系统,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析。
性能优势
配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨率高达140eV
上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形,拱上照式设计形,凹槽,螺纹等异形的快、准、稳检测
自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的对焦快速检测
采用高度自动定位激光,可快速定位测试高度,以满足不同尺寸的镀层测试
多种准直孔可供选择——准直孔:0.05*0.3mm;Ф0.1mm;Ф0.2mm;Ф0.3mm;Ф0.5mm
定位——样品可快速定位
操作简易——全自动智能集成设计,让检测轻松完成
技术优势
仪器配置高
图1
图2
智能型Thick 800A采用的是业内的SDD半导体电制冷探测器,分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。
以Au/Ni/Cu镀层为例,正比计数盒仪器谱图如图一,从谱图可以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重,金的峰形与样品本底重叠;不利于元素准确分析。
图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图,从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分,有利于元素分析。
聚焦光路设计
滤波片实现低背景测量
通过滤波片可以有效降低X荧光的吸收与增强作用,减小背景散射,提高对超薄金属元素的检出限可以达到0.005um),实现超薄金属镀层厚度分析。
精度定位技术
精度移动平台可定位测试点,平台电机重复定位精度小于0.005mm;移动平台可通过测试软件可视化操作:鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点。
FP算法
智能型Thick 800A分析核心技术----FP算法
元素厚度检测
微区分析、薄膜分析次谱线分析
更加和人性化的测试软件
①主界面增加曲线快速切换功能;
②鼠标移动快捷键更改不需要ctrl,鼠标点哪,样品平台就会移动到哪里,更加方便客户测试;
③镀层厚度自动判定,客户可以根据需要自定义判定标准;
④工作曲线界面加入备注名称可编辑,并可以显示在主界面曲线界面,对英文元素做备注说明,方便客户区分,界面对客户更加友好
⑤自动生成测试报告,测试历史数据查看、检索等
⑥行业解决方案,如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍,电泳漆测厚度,铝塑膜测试镀铝的厚度等
仪器优势
一、品牌
在1992年研发出了一台能量色散X射线荧光光谱仪,至今已经有30年以上经验积累,目前是国内一家有实力自主研发光谱仪及上市的公司,目前公司市值已超百亿,在全国拥有多家子公司,团队规模达3000人,成为中国乃至世界检测分析行业的者和品牌。
二、软硬件
1每年耗巨资研发软件,对所有客户承诺软件终身升级,做到时时跟进镀层环保指令,让客户买的仪器终生不过时。
2仪器的主要三大核心配件均来自美国进口,严格杜绝利用翻新配件和国产劣质配件,在业内树立了诚信经营的企业形象。
三、客户认可
仪器在环保测试领域占据80%以上的市场份额,得到了绝大客户的认可,是三星,华为,创维,格力,美的等大型企业的测试仪。
四、仪器精度
仪器创始人是原清华大学核物理研究院刘博士,他掌握了世界的光谱、质谱、色谱三大核心技术,对产品要求精益求精,把仪器的度管制在99.99%,检出限可达1ppm,重复稳定性达到0.1%以内,在同行相比技术较好。
五、售后服务
仪器在全国各省市建立了完善的服务网点,为所有的客户服务做到及时周到,保证售后服务2小时内响应,并快速解决问题,提供仪器终身维护。
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