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X荧光镀层测厚仪厂家XRF镀层测厚仪搭载天瑞仪器新FP分析软件,软件处理的谱形更合理,计算结果更准确,具有的谱图对比功能,随时监督供应商的物料工艺变化,因为供应商的物料环保风险主要发生在原材料和工艺条件变更。
应用领域
黄金,铂,银等和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V&plun;5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
二维移动样品平台,探测器和光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机