同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，镀层测厚仪厂家，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。


g 磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。h 附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。i 测头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。j 测头的取向测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。


由于涂镀层测厚仪（膜厚仪）使用频繁、工作环境等原因造成仪器测量时有故障，耽误生产请及时联系厂家维护

一：仪器不开机————

①请检查确认电池是否有电，或更换新的电池。

②请检查电池是否接触良好，且电*片没有氧化或生锈等-（如生锈—可用工具刮掉氧化层）

③请检查按键是否按压到位，且按键正常有弹性。

④其它主机线路故障------ 咨询公司售后服务或返厂检修

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