Flex One 显微光致发光光谱仪

传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，PL光致发光光谱仪价格，都是采用标准显微镜难以回避的问题。

OmniPL-MicroS组合式显微光致发光光谱系统

OmniPL-MicroS-A垂直光路型

垂直光路型系统架构基于标准显微镜体和光谱仪等模块组合而成，光路垂直更有利于一般的样品放置，测量过程更方便。

OmniPL-MicroS-B 水平光路型

水平光路型的系统不采用显微镜体，光路水平输出，需将样品竖直放置，系统可以配置多维可调的样品架，可以夹持固体、液体等多种类型的样品；水平光路更适合于液体样品，以及与低温制冷机配合使用时的光学布局。

MiniPL小型深紫外宽带隙光谱发光光谱仪

光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用ystems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合*的光路设计，PL光致发光光谱仪生产厂家，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，PL光致发光光谱仪，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。

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