探针是IC测试治具中非常重要的一个部分，那么IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢？

IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的*弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A 等几种类型。W，ReW弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，测试治具加工，寿命一般。而A 材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。

IC测试治具的探针主要用于PCB板测试，主要可分为弹簧针(*针)和通用针。

弹簧针在使用时，需要根据IC测试治具所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板； 通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，惠州测试治具，PCB板探针主要用于PCB板测试，测试治具订做，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装的芯片测试。

IC测试探针的选择起着至关重要的一部，鸿怡电子生产、研发的IC测试治具，探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时，寿命也更加长。

“IC测试”这个词将贯穿芯片的生命。当芯片在工程师的手中成为主意时，IC测试即将开始。

当它是晶圆单元时，需要进行测试并检查其等级（良好的晶粒或其他）。晶圆测试是对晶圆上的每个晶粒进行针测试。 测试头上装有一根金线，用于制作一个与模具上的焊盘接触的头发状探针，并进行电气测试。 特点是不合格的颗粒会被标记出来，然后当晶圆根据颗粒单位被切割成单独的颗粒时，不合格的颗粒将被去除，并且不会执行下一个过程。为了不增加制造成本。

好的晶圆单元将被封装成一个芯片。我们知道，芯片是专为特定目的而设计的。因此，当您制作一个样品时，测试治具定做，您需要使用IC功能 测试插座和故障分析测试插座来检查其工作 对于很多测试来说，它将成为一个****的解决方案，然后芯片将进入小批量测试阶段。当好的时候，IC测试座将量产。当生产加工时，生产测试即将到来。