一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统，聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，镀层分析仪，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

3在测量时要保持压力的恒定，温州测厚仪，否则会影响测量的读数

4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，电镀膜厚仪，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。本公司*的技术，光谱分析仪，you秀的良将，严格的企业管理是不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。一六仪器、一liu品质，各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

激光测厚仪技术指标：

可测范围：0～500mm

较：0.5μm

测量速度：较高9400Hz

测量距离：10～200mm

被测体水平方向运动速度较高560m/min