膜厚仪的特点

　　1、自动对焦作用。配备激光自动对焦作用，能够准确对焦，****量测效率。

　　2、具有焦点距离切换作用，适用于有凹凸的机器部件与电路板的底部进行量测

　　3、 膜厚仪 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可****在对焦时造成的损坏。

　　4、选用Mo靶材X射线管，量测*更灵敏。

膜厚仪

膜厚仪****直接的镀膜操纵方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，此法可以直接驱动蒸发祥，通过PID控制循环驱动挡板，X荧光膜厚仪，保持蒸发速率。只有将仪器与系统控制软件相连接，它就可能节制全体的镀膜进程。然而QCM的正确度是有限的，部分起因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。此外诚然QCM在较低温度下*牢固，但温度较高时，它会变得对温度非常敏感。在长时间的加热过程中，很难制止传感器跌入这个敏感区域，从而对膜层造成重大误差。