测厚仪的主要类型：

1.超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，江苏测厚仪，但在同一介质中声速是一常数。

2.磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。

3.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，XRAY测厚仪，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻*发生变化。

4.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理来测量物体厚度。

常见几种测厚仪的工作原理是什么：

2、测厚仪原理--X射线测厚仪

X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，先锋测厚仪，是一种非接触式的动态计量仪器。

3、测厚仪原理--超声波测厚仪

超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，X荧光测厚仪，脉冲会发生反射而返回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。