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故障特点 /电子元器件

电器设备内部的电子元器件虽然数量，回收芯片，但其故障却是有规律可循的。集成电路损坏的特点

集成电路内部结构，功能，一部分损坏都无法正常工作。集成电路的损坏也有两种：*损坏、热稳定性不良。*损坏时，可将其拆下，与正常同型号集成电路对比测其每一引脚对地的正、反向电阻，总能找到其中一只或几只引脚阻值异常。对热稳定性差的，可以在设备工作时，用无水酒精冷却被怀疑的集成电路，故障发生时间推迟或不再发生故障，IC回收，判定。通常只能更换新集成电路来排除。

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CBGA（陶瓷焊球阵列）

封装CBGA（Ceramic Ball Grid Array）在BGA 封装系列中的历史****长。它的基板是多层陶瓷，金属盖板用密封焊料焊接在基板上，用以保护芯片、引线及焊盘。焊球材料为高温共晶焊料10Sn90Pb，焊球和封装体的连接需使用低温共晶焊料63Sn37Pb。

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通过X射线分层法切片，回收电子，在BGA焊接点处可以获取如下四个基本的物理超试参数：①焊接点中心的位置焊接点中心在不同图像切片中的相对位置，表明元器件在印刷电路扳焊盘上的*情况。②焊接点半径焊接点半径测量表明在特定层面上焊接点中焊料的相应数量，在焊盘层的半径测量表明在焊剂漏印(PasteScreening)工艺过程中以及因焊盘污染所产生的任何变化，在球层(ball level)的半径测量表明跨越元器件或者印刷电路板的焊接点共面性问题。