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故障特点 /电子元器件

电器设备内部的电子元器件虽然数量，但其故障却是有规律可循的。集成电路损坏的特点

集成电路内部结构，功能，一部分损坏都无法正常工作。集成电路的损坏也有两种：*损坏、热稳定性不良。*损坏时，可将其拆下，回收IC芯片，与正常同型号集成电路对比测其每一引脚对地的正、反向电阻，总能找到其中一只或几只引脚阻值异常。对热稳定性差的，可以在设备工作时，用无水酒精冷却被怀疑的集成电路，故障发生时间推迟或不再发生故障，判定。通常只能更换新集成电路来排除。

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测试 BGA器件连接点的物理特性和确定如何才能始终如一地在装配工艺过程中形成可靠连接的能力，回收集成电路，在开始进行工艺过程研究期间显得特别的重要。这些测试所提供的反馈信息影响到每个工艺过程的调整，或者要变动焊接点的参数。

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JEDEC(电子器件工程联合会)(JC-11)的工业部门制定了BGA封装的物理标准，回收电子，BGA与QFD相比的****z大优点是I/O引线间距大，已注册的引线间距有1.0、1.27和1.5mm，而且目前正在推荐由1.27mm 和1.5mm间距的BGA取代0.4mm-0.5mm的精细间距器件。