大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

影响膜厚仪测量的的客观因素

耦合剂对膜厚仪的影响。耦合剂是用来排除探头和被测物体之间的空气，使超声波能有效地穿入工件达到检测目的。如果选择种类或使用方法不当，将造成误差或耦合标志闪烁，无法测量。因根据使用情况选择合适的种类，当使用在光滑材料表面时，可以使用低粘度的耦合剂；当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面时，OPTM反射率测试，应使用粘度高的耦合剂。

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使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。

可通过非*性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，OPTM，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，OPTM设备，也可容易出分析光学常数的软件

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膜厚仪测试时有关辐射安全注意事项

幅射安全方面膜厚仪由于使用X射线管而产生辐射。测量头的设计完全符合国际X射线安全要求：　　·测量头控制台上的一个*开关通过打开或关闭X射线管上的高压决定X幅射的产生与否；　　·一个多级故障自动保险互锁系统可控制X幅射的产生，从而有效保护操作者的安全；　　·如果测量门没有完全关闭，X幅射就不会进入测量室；　　·足够的遮罩用来减小外部的幅射量。