大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

硬涂层膜厚度的测量[FE-0004]

近年来，使用具有各种功能的高i性能薄膜的产品被广泛使用，OPTM膜厚仪，并且根据应用不同，还需要提供具有诸如摩擦阻力，OPTM，*冲击性，耐热性，薄膜表面的耐化学性等性能的保护薄膜。通常保护膜层是使用形成的硬涂层（HC）膜，但是根据HC膜的厚度不同，OPTM优点，可能出现不起保护膜的作用，膜中发生翘曲，或者外观不均匀和变形等不良。 因此，管理HC层的膜厚值很有必要。

头部集成了薄膜厚度测量所需功能

通过显微光谱法测量高i精度绝i对反射率（多层膜厚度，光学常数）

1点1秒高速测量

显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）

区域传感器的安全机制

易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析

*测量头对应各种inline客制化需求

支持各种自定义

测量项目：

绝i对反射率测量

多层膜解析

光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）

大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

膜厚仪如何系统校准?

校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时*1好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。