C*电容为什么也会失效？

相对于常见的电容而言，人们对于C*电容的认知却较为稀少。这就导致了在一些问题上，人们对于C*电容存在一定程度的误解，本文将以C*金属化薄膜电容的失效问题，FILM电容，来谈一谈人们对于其存在的误解。感兴趣的朋友们快来看一看吧。

很多人认为C*在电解液干枯的问题上会与普通电解电容存在区别，也就是其在规定的条件下基本不会出现寿命的问题，但实际上并非如此。

C*电容原理

无*性，绝缘阻*很高，频率特性优异（频率响应宽广），CFCC，而且介质损失很小。基于以上的优点，所以薄膜电容器被大量使用在模拟电路上。尤其是在信号交连的部份，必须使用频率特性良好，介质损失*低的电容器，电容，方能确保信号在传送时，不致有太大的失真情形发生。 介电常数较高，体积小，容量大，稳定性比较好，适宜做旁路电容。聚苯乙烯薄膜电容，介质损耗小，绝缘电阻高，但是温度系数大，可用于高频电路。

C*电容为什么也会失效？

从实验的数据来看，同一批型号的拆机电容，容量越低的，耐压越低，容量越高的，耐压越高一些。这就说明放电自愈损伤了电容金属化的表面积，导致容量下降。在之后的拆解当中发现C*电容外表层损伤非常厉害，薄膜电容价格，几乎一片的放电引起的损伤，越到内部，越好一些，这个可能跟外包装密封程度，水汽进入有关。

通过对资料的搜索，发现C*电容处于长期的工作环境时，会导致金属化镀层的蒸发从而缩小了容量，若工作温度比较高的，还会导致金属化镀层的脱落现象。