通过EFI(景深扩展成像)功能,仅需点击一下鼠标,DSX510便可获得整个样品都对焦清晰的图像。在EFI(景深扩展成像)过程中,随着焦点位置的上下移动,采集多张不同焦点位置的图像。在这些图像中,样品上聚焦清晰的各部分会被提取出来合成一幅整个样品都聚焦清晰的图像,实现对凹凸不平的样品的*检查。Olympus的EFI图像采集速度比以往快了许多。
剖面图
仅需点击一下鼠标,DSX510便可获得样品的三维图像,从任意角度观察样品,都和样品的真实形貌完全一致。通过精细的3D影像,可以观察或测量样品表面的高度特征或凹凸程度。还可以测量高度差和体积,对样品的*分析变得更加容易。
新技术,带来了新发现
通过比当前的数码显微镜数值孔径更高、像差更小的物镜、改进后更均匀的照明光源,DSX510系列光学数码显微镜的成像分辨率可与级的光学显微镜媲美。
IC芯片(物镜NA 0.4) IC芯片(物镜NA 0.8)
贝氏体钢(物镜NA 0.4) 贝氏体钢(物镜NA 0.8)
DSX510的变焦光学系统可提供高达13X的光学变焦和30X的数码变焦。单个物镜即可涵盖传统光学显微镜的放大范围。
样品的变焦放大
DSX510可提供各种各样的观察方法,呈现给用户对****的光学系统所期望的高分辨率图像。
仅需点击一下鼠标便可选择几乎所有的显微观察方法,DSX510使选择正确的观察方法变得简单。无需复杂的调整——仅需简单的在观察方法(明场、暗场、MIX[明场+暗场]、微分干涉、偏振光)之间选择,便可呈现满足*观测所需的*图像。
样品的成像效果依据材料的性质、表面状况或照明方法会有所不同。DSX110****的数码图像技术产生的多种观察方法,呈现出超越人眼观察效果的*图像。高动态范围成像功能(HDR)将不同*度下获取的影像合成,以*地调整样品表面不同区域的亮度差,呈现出亮度过渡更加*真实的图像效果。
液晶平板上的ACF各向异性导电胶
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DSX110将会自动设置必要的参数来获取图像。无论是缺陷、凹凸的表面、th还at是*,图像优化功能都确保能获得的影像。通过图像优化功能,任何人均可操作该系统——无论是新手,还是*——并且还可为每位操作者进行用户化定制。