SEM扫描电镜测试

项目介绍

SEM扫描电镜是介于透射电镜与光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。在结构研究中, 大量的样品需要在高放大倍数、更多细节的水平上进行观察和分析，同时随着样品种类的不断增多（如: 低原子序数材料、 不导电材料等）, 需要扫描电子显微镜提供优异的低加速电压性能, 以获得高质量的真实表面图像。

测试范围：

混泥土、薄膜、生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、涂层 等等...

依据标准：

GB/T 17359-1998  电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则

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深圳市赛特检测有限公司（STT）是中国第三方检测与验证服务的开拓者，拥有CNAS，CMA资质，经过十数年的发展，已成为集材料测试、环境可靠性测试、机械可靠性测试、包装运输测试、电磁兼容测试、安规、失效分析、理化检测等项目为一体的综合性检测服务机构，遵循“公正、科学、准确、****”的准则，为企业提供****的技术服务，出具国际认可的检测报告。

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