Mikron M315X-HT系列黑体校准源包括一个控制器模块和一个单独的发射外壳，发射源的可用孔径范围为4 x 4（高12 x 12英寸），温度范围为30至600°C。

Mikron  M315X-HT黑体校准源满足红外焦平面阵列检测器，热成像仪，和FLIR系统在投影场景和现场应用测试在需要更高的温度的严格参数。M315X-HT黑体源通过精密加热元件电阻加热，以提供均匀的温度分布。两件式系统由控制器模块和用于发射源的单独外壳组成源温度控制由精密数字PID控制器执行，该控制器安装在7英寸（180毫米）高19英寸机架安装式机箱中。 

产品特点

• 8至14 µm时的高有效发射率1.0
• 孔径范围（4 x 4英寸至12 x 12英寸）
• 高分辨率（0.1°C）
• 在静止空气环境中具有出色的稳定性&plu*n; 0.2°C

技术参数
温度范围
环境温度30至600°C（86至1112°F）

温度不确定度
T <100°C时为&plu*n;1°C，T = 600
°C时为&plu*n;2°C（通过 辐射测量进行的精度校准），已经包括了发射率和传输标准的不确定性

温度分辨率 
0.1°摄氏度

稳定性
在静止空气环境中
为&plu*n;0.2°C，提供稳定的交流电源电压，并在出口或发射板流过的空气少

加热发射形状
平板

出口直径
M315X4HT：101 x 101毫米（4 x 4英寸）
M315X6HT：152 x 152毫米（6 x 6英寸）
M315X8HT：203 x 203毫米（8 x 8英寸）
M315X12HT：305 x 305毫米（12 x 12英寸）
 
发射率
在8至14μm时〜1.00的有效发射率
说明书中提供了光谱发射率图
 
标准校准方法
辐射度