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扫描测头

扫描测头在进行单点触发采点时，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，蔡司三坐标检测仪报价，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度显著高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。

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触发测头

测点数目给了我们很清楚的指示，如果被测零件的测量要求中有关于圆度的测量需求，蔡司三坐标检测仪，那需要使用扫描测头。试想一下，如果1个圆的64个测点采用单点触发式测头来测量的话，其测量效率显然是难以让人接受的。从测量效率和合理性出发，事实上不仅是圆度，其它类型的形状公差测量都应采用连续扫描测头，否则难以准确地评价被测元素的形状公差。

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三坐标测头

光学测头相比接触式测头还有另一方面的优势。接触式测头采点时，测头记录的是测球中心的空间坐标，然后根据测球半径来进行补偿，得出实际点的坐标。但当测量特定位置的三维曲线时，蔡司三坐标检测仪价格，如果不按照测点的法线方向去采点，会存在半径补偿余弦误差;而如果按照测点的法线方向去采点，又会产生实际测点位置出现偏差的情况。这种情形在测量透平叶片时尤为常见。