LDO芯片电学特性测试方案
步骤 |
操作方法 |
操作界面 |
选择测试模式 |
在上位机软件内,选择【晶体管】—>【MOS管测量】
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设置源表参数 |
根据实际测试需要,分别设置源表的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。其中,源表 1的主要作用是,作为输入电压源,而源表 2则作为电压表 |
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启动测试 |
点击运行图标“”,即可启动测试 |
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测试数据 |
待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查应的数据与图形 |
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步骤 |
操作方法 |
操作界面 |
选择测试模式 |
在上位机软件内,选择【晶体管】—>【MOS管测量】
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设置源表参数 |
根据实际测试需要,分别设置源表的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。其中,源表 1的主要作用是,作为输入电压源,而源表 2则作为电压表 |
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启动测试 |
点击运行图标“”,即可启动测试 |
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测试数据 |
待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查应的数据与图形 |
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步骤 |
操作方法 |
操作界面 |
选择测试模式 |
在上位机软件内,选择【晶体管】—>【MOS管测量】
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设置源表参数 |
根据实际测试需要,分别设置源表的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。其中,源表 1的主要作用是,作为稳定的输入源,而源表 2则作为负载,同时测量负载两端的电压。 |
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启动测试 |
点击运行图标“”,即可启动测试 |
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测试数据 |
待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查应的数据与图形。根据测试需要,设置不同的输出电流参数,进行多次测试。 |
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步骤 |
操作方法 |
操作界面 |
选择测试模式 |
在上位机软件内,选择【数据记录仪】
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设置源表参数 |
根据实际测试需要,分别设置源表的参数。比如【起始值】,【限值】,【扫描点数】等。 |
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启动测试 |
点击运行图标“”,即可启动测试 |
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测试数据 |
待测试完毕后,分别点击【表格】,【图形】,可查应的数据与图形。 |
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以上是关于LDO芯片电性能测试数字源表的信息,更多有关LDO芯片电性能测试数字源表的信息找武汉生产厂家普赛斯仪表一八一四零六六三四七六