江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)
厚度分析范围:各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪(国产)是一款针对金属电镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡等)厚度的,通过X荧光照射出产品,每个元素反射出的二次特征谱线,通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度,完全达到无损、快速分析的效果,产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业(铝平行管、电镀五金),连接器企业、开关企业等。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏*传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
分析含量一般为2ppm到99.9%
一六仪器 *测厚仪 多道脉冲分析采集,*EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合*定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
测试面积是测厚仪器的一项很重要的参数,主要由准直器控制组成,但也受其它条件限制:
1、受高压、光管限制,聊城测厚仪,因为需要这两装置提供足够荧光强度和聚焦。
2、受仪器结构限制,相同的准直器因安装的位置及与探测器的角度都影响测量面积,光谱测厚仪,同样是直径0.2mm准直器Thick800A测量面积达到直径0.4mm,EDX1800B测量面积达到直径0.5mm,CMI900测量面积达到0.3mm,而XTU-A面积可以达到0.218.
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们*的研发团队具备十年以上的从业经验,电镀测厚仪,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光光谱测厚仪原理
一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,涂层测厚仪,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。