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光谱仪直读-泰瑞达仪器-直读光谱仪

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直读光谱仪实验室要求「上」
1、放置直读光谱仪器的实验室空间
根据直读光谱仪的外观尺寸进行实验室设计,且应将光谱仪与制样设备分间放置,为日常操作方便,应在仪器的后,光谱仪直读,左,右留下一米左右空间;在前方的操作面前留有空间,直读光谱仪,所以的实验室仪器间面积应在10平米以上;放置仪器的房间与放置气及制样设备的空间建议分隔开;放置制样设备的房间需根据用户的制样设备情况确认。
2、直读光谱仪放置附属设备的房间,如气瓶,直读光谱仪价格,制样设备等
3、两至三瓶纯度为99.995%的气(含水和含氧量为3ppm),如分析属或高硅或铸铁样品时需用纯度以上的气(含水和含氧量为2ppm),如分析氮元素含量lt;0.05%,需采用气净化器气中的氮,水,氧含量均小于0.5ppm。
4、断电保护;

5、过流10A保护;





火花直读光谱仪中硫元素偏低的现象分析

分析原因
1.气的影响
气能够防止试样表面被氧化,提高背景与谱线的强度之比,稳定激发的质量。硫分析的稳定性,与气的流量,压力的稳定有关,同时也受到气纯度的影响。
气的影响分为三个方面:(1)气不纯;(2)气流量太小;(3)气的静态流量。
(1)气不纯时硫的强度有一定程度的波动,一般表现为无规律的偏低,标准化无法消除影响,这种影响很容易发现,一旦气不纯,激发表现为声音异常,火花直读光谱仪,听起来尖锐,另外激发点也不正常。当气严重不纯时激发点发白,轻度不纯时点的边缘有白花存在,因为气中有氧存在会再激发初期与金属原子结合而形成氧化层,干扰甚至*整个激发过程,使硫的强度受到不同程度的影响。消除这一影响的关键在于:保证气的纯度不低于99.995%,且管路的气密性良好。
(2)气流量和压力太小的影响。气流量和压力决定气对试样放电表面的冲击力,若气的流量和压力太小造成冲击力低,不足以将试样激发过程中产生的氧和氧化物冲洗掉,而这些氧化物会凝聚在样品表面和电*上,*试样的继续蒸发,造成硫元素没有完全蒸发而后分析结果的偏低(这种现象对其他元素也适应)。气流量和压力使激发室内气不足,使激发质量不好或激发不完全,硫的强度表现为严重偏低甚至没有,只要*气流量就可以解决,在正常分析前首要检查气的流量压力表,输出压力控制在2.2Mpa-2.5Mpa之间,流量在3.5L/min。
(3)气的静态流量影响。光谱仪在待机或一段时间内不分析时要保证一定的静态流量,静态的流量控制大约0.2~0.5L/min,光路内无静态或静态不足,会影响200nm以下的元素的光强值,S的光强值表现为偏低并伴随不稳定,随着时间的推移光强值不断升高。这种现象的处理办法很简单,多激发几次并等待时间30分钟以上。(这种现象也适用于C和P元素)





该仪器引进了国外的*技术,是集光、机、电、传感器、计算机、分析技术等于一体的高新技术产品。具有测量范围宽、*干扰能力强、功能齐全、操作简便、分析结果准确可靠等特点。该机大部分元件均采用进口,整机性能可与进口产品媲美。

符全人性化的园弧型、不锈钢台面设计,操作方便。对超低含量和较高含量的分析采用国内的双碳双硫池接入,并自动转换。

高速24位采样实现分析过程动态数据积分,提高了分析的灵敏度和准确度。国内的转化为二氧化碳装置,提高碳的测量准确度。



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