江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)
厚度分析范围:各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪(国产)是一款针对金属电镀层(镀金、镀镍、镀锌、镀锡等)厚度的,通过X荧光照射出产品,每个元素反射出的二次特征谱线,通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度,完全达到无损、快速分析的效果,产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业(铝平行管、电镀五金),连接器企业、开关企业等。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏*传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
分析含量一般为2ppm到99.9%
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上*的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,镀层测厚仪,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为干扰因素,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种*的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
*:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪
性能优势:
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
jie shou 器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
EFP*算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能
-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析,如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析检测。