气不纯:当气中含有氧和水蒸汽时,使激发斑点变坏。如果气管道与电*架有污染物排不出去,或有泄漏时,分析结果变差。
试样要求表面平整,当试样放在电*架上时,不能有漏气现象。如有漏气,激发试样的声音不正常,激发斑点变白。
分析样品与控制标样的车纹粗细要一致,不可有交叉纹,车样用力不要过大,而且用力要均匀,一定要坚持后一刀是自动刀,后一刀不要太厚,太厚会使样品温度过高,分析结果会不准确。
激发台
在激发系统中其基本维护的部位为激发台内部,激发台内部是否清洁、电**距是否稳定,激发台发光弧焰相对于光学系统的高度等,均会影响我们的数据结果。
1.拔出废气管,用吸尘器清理激发腔中的灰尘;
2.使用脱脂棉沾纯酒精擦拭护套;
3.清理完成,用*距规重新测量一次分析间距;
4.再用气冲洗整个回路2~3分钟,以冲掉进入火花台的空气。
为什么CMOS直读光谱仪能够同时兼具全谱特性和超低检出限,主要源于以下几点:
(1)高灵敏度:科研级CMOS由于近100%的高像元填充率而拥有用于高光谱成像系统的灵敏度优势,灵敏度好,应用于直读光谱仪,各常见金属分析检测元素元素检出限均可到0.01~10 ppm;
(2)光谱范围宽:CMOS光路结构使原来的一段连续光谱分成上下排列的两段光谱,有效的扩展面阵传感器接受光谱的范围,可以接收从深紫外区域到1000 nm的波长谱线,能够满足金属样品中各元素的分析;(3)高阻*:CMOS在电路设计上集成度更高,将A/D转换器集成于芯片内部,国产直读光谱仪,直接数字信号输出,大大降低了外围电路的复杂度,降低了整个电路的功耗;CMOS的APS效率比较高,由于采用了新的消噪技术,输出图形信号质量比以前有许多提高,读出噪声一般为14~100个电子。耗电小,背景小,光谱仪直读,噪音小,这些都大大提高了光谱仪分析低含量元素的重复性;
(4)数据传输速度快:从CMOS内部结构可以看出,CMOS的光电探测和输出放大器是在像素内部,因此它可以很灵活地将信号读出,而且CMOS光电传感器采集光信号的同时就可以取出电信号,还能同时处理各单元的图像信息,所以CMOS数据传输速度比CCD电荷耦合器快很多。
(5)成本低:科研级CMOS也是面测量,可进行全谱扫描与分析,直读光谱仪,不需要像PMT那样一个通道必须配置一根管,直读光谱仪厂家,成本较低; 科研级CMOS与光谱仪的结合,是与质量的结合,二者相得益彰,珠联璧合。、高性价比的CMOS直读光谱仪是时代进步的产物,是市场需求的产物,是直读光谱仪行业发展的必然趋势。