3)IGBT饱和压降/FRD正向导通压降测试电路 通态压降测试电路?高压充电电源:10~1500V连续可调?支撑电容:额定电压2kV?饱和通态压降电压探头精度要求:0.1~10V±3%±0.01V?栅*电压输出要求:5~25V±1%±0.01V ?集电*电流测试设备精度: 200~500A±3%±1A;500~1000A±2%±2A?测试脉冲宽度:0.1~1ms可设定4)栅*漏电流测试电路 栅*漏电流测试电路?可调电源:±1V~±40V±2%±0.1V;?小电流测量设备精度:0.01~10μA±2%±0.005μA?栅*电压Vge:±1V~40V±1%±0.1V;?3半导体变流器变压器和电*器GB/T4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二*管。脉冲时间:40~100ms可设定
3.6VCES集射*截止电压0~5000V集电*电流ICES:0.01~1mA±3%±0.001mA;1~10mA±2%±0.01mA;10~50mA±1%±0.1mA;集电*电压VCES:0-5000V±1.5%±2V;*3.7 ICES集射*截止电流0.01~50mA集电*电压VCES:50~500V±2%±1V;500~5000V±1.5%±2V;集电*电流ICES:0.001~1mA±3%±0.001mA;1~10mA±2%±0.01mA;10~150mA±1%±0.1mA;*3.8VCE(sat)饱和导通压降0.001~10V集电*电流ICE:0-1600A集电*电压VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V栅*电压Vge:5~40V±1%±0.01V集电*电流ICE:0~100A±1%±1A;100~1600A±2%±2A;*3.9Iges栅*漏电流0.01~10μA栅*漏电流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA栅*电压Vge:±1V~40V±1%±0.1V;Vce=0V;*3.10VF正向特性测试0.1~5V二*管导通电压Vf:0.1~5V±1%±0.01V电流IF:0~100A±2%±1A;100~1600A±1.5%±2A;机车、汽车、船舶控制系统生产厂——应用本公司测试系统可对所应用到的元器件,尤其对。