徐州测厚仪-一六仪器1-镀层膜厚仪

一六仪器 *测厚仪 多道脉冲分析采集，*EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合*定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关*和*中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，徐州测厚仪，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们*的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

X荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定

在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，荧光测厚仪，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度，就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候，光谱膜厚仪，可以在样品中加入高纯度的二氧化硅，作为参比样，并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。

江苏一六仪器 *涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合*定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

双镀层：Au/Ni/Cu，镀层膜厚仪，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu， Au/Ni/Cu/Fe，等等

一、功能

1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2. 镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。