芯片检测显微镜——芯片检测
倒装芯片封装的不良状况无损分析
在倒装芯片的焊接中,组装后的焊接部分和模块无法用可见光检查。但是如果使用近红外线显微镜,则可以在不*封装的前提下,透过硅观察IC芯片内部。只要置于显微镜下,就可以轻松进行不良状况分析。对必需用FIB(Focused Ion Beam)处理位置的也很有效。
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芯片检测显微镜——厂家介绍
老上光仪器厂拥有一支*从事显微仪器应用技术研究,新产品新技术开发的工程技术团队,在传统光学显微成像技术上融入了摄像计算机分析系统,不断地开发出能满足生物、科研教学、机械制造、电子材料、纺织纤维、地质矿产、石油化工、航空航天、计量科学、农林牧渔等几乎所有应用领域进行研究分析的新产品和新技术。
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芯片检测显微镜的特点
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1. 配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),芯片检测显微镜,视场大而清晰。
2. 配置大移动范围的载物台,能快速和慢速移动。
3. 粗微动同轴调焦机构,芯片检测显微镜多少钱,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm。
4. 可调亮度的卤素灯。
5. 三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察,可进行100%透光摄影。