江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪
产品配置
*金属镀层测厚仪标准配置为:X射线管,正比计数器﹨半导体探测器,高清摄像头,杭州测厚仪,高度激光,信号检测电子电路。
性能指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:CI~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们*的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名*通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光镀层测厚仪金属成分含量的测定
在包含某种元素1的样品中,照射一次X射线,就会产生元素1的荧光X射线,不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素1的含量的变化而改变。元素1的含量多,荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点,如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度,电镀测厚仪,就可以推算出样品中元素1的含量。采用定量分析的时候,可以在样品中加入高纯度的二氧化硅,作为参比样,并且掺量是已知的。这样可以间接知道其他组分的含量。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列
技术参数
X射线装置:W靶微聚焦加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度:9%
测量距离:具有距离补偿功能,荧光测厚仪,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察:1/2.5彩色CCD,光谱膜厚仪,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦
放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍
随机标准片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱