电镀膜厚仪-测厚仪-一六仪器1

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们*的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

目前，金属镀层常用的分析方法有湿化学电解分析、辉光放电---发射光谱分析（GD-OES）和X射线荧光光谱仪等。湿化学电解分析需选用适当溶剂溶解选定的镀层，逐层溶解并进行测定，方法准确但费时费力，测厚仪，尤其是相关特定溶剂的选择也非常复杂，价格又贵，属于典型*性样品检测，镀层分析仪，测量手段手段繁琐，速度慢，电解液耗损大，目*般很少应用。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定，这种方法可实现剖面或逐层分析，但测量重复性并不理想。

江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪 *涂镀层测厚

应用领域：广泛应用于线路板、引线框架及电子元器件接插件检测、镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析、手表、精密仪表制造行业、

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测、卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、电镀液的金属阳离子检测。

一六仪器 *测厚仪 多道脉冲分析采集，*EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

常规镀层厚度分析仪的原理

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关*和*中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，电镀膜厚仪，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。