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电容器的使用寿命

瓷片电容的连续工作电压及环境温度与使用寿命有一定的关系。众所周知在电容器介质上的额定工作场强与其它电器相比是比较高的。所以在我国GB/T11024．1-2001中明确规定，陶瓷电容器的额定工作电压是电容器容许在电网中连续工作的z高电压。如果陶瓷电容器在标准规定的额定电压及以下运行，电容器产品90％能可靠地在网上运行20年，FILM电容，如果在高于其额定电压的电压下连续运行，电容器的实际使用寿命就将大大缩短，可靠性也将因电老化而下降。

次，瓷片电容的使用寿命长短与环境温度有关系，在低于其允许z低温度的温度下投入运行，很可能会在电容器内部引发局部放电，从而加速其电老化而降低电容器的实际使用寿命。而另一方面，如果电容器长期在高于其z高允许的温度下运行，又会加速电容器的热老化。因而一方面要选用其温度类别与实际的运行环境温度相适应的电容器。

瓷片电容的使用寿命长短是与诸多因素有关的。以上所介绍的是**的两个因素，薄膜电容厂家，因此想要延长或者是保障其使用寿命，舟山电容，必须要保障这两个参数符合电容器的实际参数。

向陶瓷电容器施加超过其额定电压的电压，会导致短路故障还是开路故障　　

一般来说，向电容器施加过量电压后都会导致短路故障。片状独石陶瓷电容器的损坏电压为其额定电压的5~10倍以上，稍高于额定电压的外加电压很难对电容器造成瞬间损坏。

但在使用中如向电容器施加的电压超过其额定电压，则不在保修范围之内。

电容器的电压加速和温度加速　　

通过电压加速与温度加速系数可推算出电容器的使用寿命。可将产品使用时的外部环境温度及施加电压作为参数进行公式化。 一般来说，阿列纽斯法则被广泛用于加速公式中，而我们运用以下公式便可简单地进行推算。 47_01cn.PNG 在此公式的基础上，通过在更为严苛的条件(更高温、更高电压)下进行加速试验，可推算出产品在实际使用环境下的使用寿命。 在此，我们一起来比较一下独石陶瓷电容器的加速试验与实际产品使用的假定环境。我们将电容器的加速试验中将耐久试验时间视为LA，将实际使用环境下的相当年数视为LN，用于上述公式。 耐久试验条件 假定使用环境 电压加速系数 温度加速系数 相应年限 TA＝85°C VA＝20V LA＝1000h TN＝65°C VN＝5V n＝4 θ＝8 LN＝？h 这样，我们即可通过在85°C、施加20V电压的环境下进行了1000h的耐久试验，推算出在5°C、施加5V电压的环境下产品使用年限为1448155h(≒165年！)。计算中使用的电压加速系数、温度加速系数会由陶瓷材料的种类及构造产生不同，但通过加速计算公式可在相对较短的时间内利用试验结果来验证长时间的实际使用环境中的产品使用寿命。

电容器的发展简况

*原始的电容器是1745年荷兰莱顿大学P.穆森布罗克发明的莱顿瓶，它是玻璃电容器的雏形。1874年德国德国M.鲍尔发明云母电容器。1876年英国D.斐茨杰拉德发明纸介电容器。1900年意大利L.隆巴迪发明瓷介电容器。30年代人们发现在陶瓷中添加钛酸盐可使介电常数成倍增长，因而制造出较便宜的瓷介电容器。1921年出现液体铝电解电容器，1938年前后改进为由多孔纸浸渍电糊的干式铝电解电容器。1949年出现液体烧结钽电解电容器，1956年制成固体烧结钽电解电容器。50年代初，生产电容，晶体管发明后，元件向小型化方向发展。随着混合集成电路的发展，又出现了无引线的超小型片状电容器和其他外贴电容器。

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