江苏一六仪器 PCB板材 线路板大板件类X荧光光谱测厚仪
元素分析范围:氯(CI)-铀(U)
厚度分析范围:各种元素及有机物
一次性同时分析:23层镀层,24种元素
膜厚仪光学监1控是高精致镀膜的的首1选监1控方式,这是因为它能够更准确地把持膜层厚度(如果利用切当)。精1确度的改进源于很多因素,膜厚测试仪,但****基础的起因是对光学厚度的监1控。对单波长光学监1控体系,是采用间接测控,结合****光学监1控软件,有效****光学反应对膜厚度变革灵敏度的实际跟措施来减少终1****误差,供应了反馈或传输的决定模式跟大范围的监测波长。特别适合于各种膜厚的镀膜监1控包括非规整膜监1控。
江苏一六仪器 达克罗、电泳漆类镀层检测分析膜厚仪 快递*****样品 EFP****算法软件
膜厚仪的正确校正及测量说明
1、打开膜厚仪探头盖。
2、膜厚仪的校正 ①取出校正片.将膜厚仪四角平行放在校正片上,拿起膜厚仪按左功能健至CAI,按OK,再在校准正片上连续平行测试5次后按OK健归零。 ②将二次校片放在校正片上连续平行测试5次后按OK键归零。 ③按功能键到O键,扫OK,再在校正片上连续测试5次后按OK键归零,膜厚仪,再按OK键,加入二次校正片用膜厚仪测试5次.按OK键归零。 ④每周校。
3、膜厚仪的测量 ①取出被测物品及探头。 ②将被测物品平放于桌面,将探头和四角与被测物品进行直接平面接触,点击测量键读取数值。 ③依②的操作方法对被测物品的主次面进行平均三点测量。 ④将单面三点的数值进行换算,得出单面的平均膜厚值[ā=(a1 a2 a3)/3]。 ⑤将以上测量数值填入《出货检验报告》及《膜厚测试巡检报告》
4、膜厚仪设备停止。
江苏一六仪器 线路板PC板类镀层分析通用型测厚仪
微聚焦射线管、****的光路设计,膜厚仪原理,以及变焦算法装置,可测试****微小和异形样品
技术参数
元素分析范围:氯(CI)-铀(U)
厚度分析范围:各种元素及有机物
一次性同时分析:23层镀层,24种元素
厚度****di检出限:0.005um
****xiao测量面积:0.002m㎡
对焦距离:0-90(测试凹槽,可变焦)
样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm
仪器尺寸:550mm*480mm*470mm
仪器重量:55kg
业内认可的常用方法
一、磁性式
1,价格经济,约1千~2万,具体材料的差别需另外购买测头,且镀膜的种类有限制。
2,无损检测,使用简便,方便检测大型的工件,体积小,约400cm2,300g左右。
3,测量厚度范围广,非金属2~2000um左右,金属镀层2~40um左右,但只能测试单层膜厚。
4,测量误差大,5%左右,测膜厚仪,分辨率低,1um左右。
5,测头的面积偏大,对需测的样品要求高:须有较大的平面用来测试(7mmψ左右),基材厚度在0.35mm以上,而且面对不同的形状和材质都需进行校正
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式(库伦法)
五、金相测试法
六、非*荧光式(*)