涂镀层膜厚仪(图),X荧光膜厚仪,膜厚仪

膜厚仪电涡流测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻*也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，膜厚仪，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，电镀膜厚仪，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，X荧光膜厚仪，量程10mm的高水平。

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为了确保膜厚仪的安全操作，必须注意以下几点：

1.始终按照操作手册的要求操作膜厚仪；

2.不要损坏安全互锁系统的任何元件，例如微动开关等等；

3.不要对膜厚仪做任何改变。

膜厚测试仪操作步骤：

1、开1机前的检查： ①检查电源线路是否连接好。②检查样品表面是否洁净。

2、开机：1 ①打开电脑。②打开仪器主体电源开关"POWER"。③点击桌面"ExWin"软件程序。 ④ 打开*电源开关(*开关)，合金膜厚仪，点击提示"确定"。⑤进行能谱校正(自动，30秒)，暖机30分钟。

3、测量： ①点击"测量"选择相应的测量条件。②打开样品出入窗，将样品放置于载物台上。③用控制器调整载物台在测试室内的位置。④将样品在视频中调节至****清晰。⑤点击"测量(F2)"进行测量。⑥ 每个镀层测量点需在相近位置测试三个数据。