镀银层测厚仪多少钱

优势和特点
*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果
*****于识别镀层成分的*型功能
*机身结构小巧结实，外形十分*亮，适合放置于陈列展室


*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的*结果
*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书
*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心
*Thick系列分析仪测试数据可以和上传网络，检测结果易于查看和分享
*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用
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****的技术
**的 Peltier 电制冷进口检测器
*数字脉冲处理 (DPP) 技术
*基本参数 (FP) 无标样分析方法
**、多元素分析\

功能强大、易于使用的元素分析软件
无标和半无标分析
基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
多层厚度及成分
不限元素、不限数量的标样
利用自动化操作实现多个激发条件

可应用于
*合金分析
*镀层厚度分析
*电镀液金属离子分析
*磁性介质和半导体元素分析
*土壤污染元素分析
*过滤器上的薄膜元素分析
*塑料中的*元素分析

我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发*及生产技术人员，依靠****科学研究，总结多年的现场应用实践经验，结合中国的特色，开发生产出的Thick-890 型X镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。

thick890


三. 仪器特点：
1． 仪器外观选用*的流线型设计，时尚雅致。
2． 同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
3． 可以分析****多5层镀层，一次可分析元素多达24种。
4． 无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
5． 检出限可达到2ppm。
6． 分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
7． 采用美国原装、国际****的探测器，能量分辨率高。
8． 采用美国原装、国际****的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠。
9． *管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
10． 采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。
11． 采用电动无****控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。
12． 采用双激光对焦系统，准确*测量位置。
13． 高度传感器。
14． 保护传感器，有效保护探测器。
15． *度高，稳定性好，故障率低。
16． 辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保
护，辐射安全性可靠。
17． WINDOWS XP 中文应用软件，*****的分析方法，完备强大的功能，操
作简单，使用方便。
四.仪器的技术特性
1． X-Y-Z样品平台移动装置
Thick-890型X射线镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。
2. X射线管激发系统
激发系统采用*的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。****长寿命*管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际****水平的*管，指标达到国际****水平功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。
3．高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比分辨率能达到149eV±5ev。
4．能谱仪电子学系统
原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高*干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用*的2048道。
5．计算机分析系统
*计算机；高分辨率彩色液晶显示器。
*激光打印机。
6．系统软件
国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、
理论α系数法等多种经典分析方法，*保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。
7．电源
AC 220V～240V、50Hz 。
额定功率：350W。选配*参数稳压电源。
8．仪器尺寸、重量
样品腔尺寸：498*360*158 mm（W*D*H）
主机外形尺寸：580*500*580 mm （W*D*H）
主机重量：约50KG。
五.应用:
塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、*等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

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