原子发射光谱仪、赛世尔(在线咨询)、淄博光谱仪

<*n style="font-size:14px;">相信很多人对于光谱仪都是比较熟悉的，而要说光谱仪的种类，那也是十分多的。根据种类的不同，所应用的领域也不同。下面来光谱仪来聊聊赛默飞easy*rk火花全谱直读光谱仪。

<*n style="font-size:14px;">数字电流控制光源（CCS）：

<*n style="font-size:14px;">采用第二代专利的CCS技术， CCS激发光源为火花发射光谱分析的样品采集和激发过程提供了准确稳定，连续的控制光源。

<*n style="font-size:14px;">开放式火花台：

<*n style="font-size:14px;"> <*n style="font-size:14px;">采用的是开放式的火花激发台，适合于各种形状大小(****重可分析10Kg)的样品分析。<*n style="text-indent:2em;font-size:12px;">

<*n style="font-size:14px;">*的光室结构：

<*n style="font-size:14px;">整个光学系统（光栅、狭缝、透镜、CCD检测器）置于光室中的舢型板上不会受压力、温度的波动的影响，从而保证光学系统的长期稳定性。

<*n style="font-size:16px;">光谱仪误差的来源分析

<*n style="font-size:16px;">山东赛世尔仪器设备有限公司是一家****从事实验室检测分析仪器生产、销售、售后于一体的高新技术公司。赛世尔仪器和您一起探讨光谱仪误差的来源分析：

<*n style="font-size:16px;">为了使分析结果更准确，必须尽量减小误差。要减小误差必须要对光电直读光谱分析时的系统误差和偶然误差的来源进行探讨，从而更有针对性的寻找减少误差的方法，来****分析结果的准确度。

<*n style="font-size:16px;">1.系统误差的来源

<*n style="font-size:16px;">(1)分析试样和标准样品的*状态不同。在做固体金属材料分析时，分析试样和标准样品的*状态不同是经常存在的(如浇铸状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压等状态的钢样金属*结构是不相同的);因为*结构的不同，在光电直读光谱分析中某些元素测定的结果也不尽相同，从而引人了系统误差。

<*n style="font-size:16px;">(2)试样中除基体元素和分析元素以外的其他元素干扰。若标样和试样中的第三元素的含量和化学组成不完全相同，亦有可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引人系统误差。

<*n style="font-size:16px;">(3)光谱标样在化学分析定值时带来的系统误差。

<*n style="font-size:16px;">(4)未知元素谱线的重叠干扰。

<*n style="font-size:16px;">(5)气不纯。当体气中含有氧和水蒸气时，使激发斑点变坏;或管道与电****架有污染物排不出去，或有浊漏时，淄博光谱仪，使分析结果变差，从而引人系统误差。

<*n style="font-size:16px;">(6)钨电****的影响。钨电****的具有一定角度使光轴不得偏离中心，放电间隙应当保持不变，否则聚焦在分光仪的谱线强度会改变。如:重复放电以后，钨电****会长尖，改变了间隙放电距离;激发产生的金属蒸气也会污染透镜表面，它们都能引人系统误差。所以必须每激发一次后就要用刷子清理电****。

<*n style="font-size:16px;">(7)透镜的影响。透镜内表面用来保持真空，常常受到来自真空泵油蒸气的污染，外表面受到分析时产生金属蒸气的附着。使透过率明显的降低，对镇200 nm的碳、硫、磷谱线的透过率显著降低。工作曲线的斜率降低，所以聚光镜要进行定期清理。度，偶然误差小，再现性(精密度)高。当没有系统误值与真值之间的差值。

<*n style="font-size:16px;">(8)电源电压的影响。电源电压的变化容易引起激发单元放电电压的改变，电源电压波动要求在10写以内。

<*n style="font-size:16px;">(9)分析过程中，工作条件等的变化没有觉察出来，也会产生系统误差。

<*n style="font-size:16px;">2、偶然误差的来源

<*n style="font-size:16px;">(1)试样成分不均匀。因为光电光谱分析所消耗的样品很少，样品中元素分布的不均匀性、*结构的不均匀性，导致不同部位的分析结果不同。不均匀性的主要原因是:冶炼过程中带人夹杂物;在样品熔炼过程中产生的偏析，造成样品元素分布不均;试样加工过程中夹人的砂粒和金属元素、磨样纹路出现交叉、试样磨样时过热、试样磨面放置时间太长和压*因素;试样在取样冷却过程中的缺陷，如:气孔、裂纹、砂眼等。

<*n style="font-size:16px;">(2)试样表面不平整。当试样放在电****激发台上时，不能有漏气现象。如有漏气，激发光室气压不稳定，进口ICP光谱仪，激发试样的声音也不正常，激发斑点变白，影响分析结果。

<*n style="font-size:16px;">(3)试样厚度较薄。当试样厚度较薄，磨样时容易过烧，且激发试样时容易激穿;由于太薄，试样表面也很难平整，也影响薄样所测结果。

<*n style="font-size:16px;">(4)分析样品与控制标样操作不一致。磨样纹路粗细要一致，不可有交叉纹，磨样用力不要过大，而且用力要均匀，力求操作一致，用力过大时，试样磨样过热，容易造成试样表面氧化。

<*n style="font-size:16px;">(5)试样不具备一定代表性。如有偏析、裂纹、气孔等缺陷。

光谱仪在行业中是*的工具，我们在选择直读光谱仪时，可以从光谱范围、测量速度、测试精度、重复性、校准、溯源等因素来综合考虑，下面就由赛世尔来简单讲一讲吧。

1、光谱范围

对于LED测试而言我们所测试的光谱范围基本上在可见光范围，原子发射光谱仪，也就是380nm - 780nm，等离子体发射光谱仪，所以直读光谱仪的范围一定要覆盖380nm - 780nm这一范围。但是，有时我们也需要关注紫外光谱的测量（比如消毒刹<*n style="text-indent:2em;line-height:1.5;">虫用的紫外灯），此时建议把光谱范围设定为250nm – 850nm会比较合适；而如果比较关注红外部分光谱，则建议把光谱范围设定为350nm – 1050nm比较合适。

2、测量速度

传统灯具的发光属于热光源，当灯具达到热平衡后，颜色与温度特性变化很小，即热稳定性好，所以可以选择测量时间长，但测量精度高的扫描式光谱仪进行测量。但是对于热稳定性差的光源，必须用CCD光谱仪。