膜厚仪的影响因素有哪些
1、基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
2、边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
3、曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地*。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
4、试件的变形
测量头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
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如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内;根据统计学的观点,一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。
如何使用膜厚仪测量的更加准确
基体金属特性对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测资1源网 如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。